закрыть

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS-PK1

Бренд :
параметрический анализатор 4200-SCS
2 измерительных модуля 4200-SMU
предусилитель 4200-PA
нтерактивное программное обеспечение KTE Interactive
испытательный стенд с образцами устройств
набор кабелей.
4 262 868
Количество :
В корзину

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS-PK1 является очень функциональным прибором, который обеспечивает возможность снятия вольтамперных, импульсных, а также,  вольтфарадных показателей полупроводниковых устройств.

Благодаря специальному программному обеспечению, у пользователей есть возможность производить сложные измерения ВАХ и ВФХ, измерения импульсного характера ВАХ на высокой скорости, а также, осуществлять генерацию сигналов произвольного типа для того, чтобы полностью описать устройство, которое поддается тестированию.

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS-PK1 наделена множеством достоинств, среди которых:
- архитектура по модульному принципу;
- возможность определения конфигураций и масштабов соответственно потребностям;
- мультичастотные и сверхнизкочастотные измерения ВФХ;
- величина разрешения 0,1 фА, а также, 1 мкВ;
- двухканальный быстро функционирующий модуль.

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS-PK1, которую предлагает наша компания, отличается надежностью и высочайшим качеством.

Типовой комлект конфигурирования системы Keithley 4200-SCS для снятия ВАХ. 
Диапазоны: 210 В / 100 мА, разрешение 0,1 фА. 

Состав: 

  • параметрический анализатор 4200-SCS
  • 2 измерительных модуля 4200-SMU
  • предусилитель 4200-PA
  • нтерактивное программное обеспечение KTE Interactive
  • испытательный стенд с образцами устройств
  • набор кабелей.

Дополнительная информация

Все приведенные в описании данного прибора параметры являются типичными, их точное значение определяется в процессе калибровки. Для определения реальных параметров прибора при его приобретении рекомендуем заказать калибровку в метрологической службе нашей компании.